石英晶振的測量方法分為多種,作為現(xiàn)代電子產(chǎn)品中不不可缺少的電子元件來說,測量是重要的一個步驟,一個成品的成敗就看它了.而測試石英測量石英參數(shù)有兩種原理方法:主動測量和被動測量.
主動測量時,將振蕩器中的石英用作頻率決定的肢體.這些測量設(shè)備稱為"測試",專為不同石英晶體振蕩器頻率范圍而設(shè)計.在這些設(shè)備中,石英在很大程度上獨立于共振電阻及其其他參數(shù)C1,L1和c0進(jìn)行擺動.例如,共振電阻通過振蕩器的活動指示器進(jìn)行擺動檢測到電阻替代.在這些測試集中,頻率測量的絕對測量精度約為10~15.10~6,可以通過3~5.10~6上各個設(shè)備之間的比較測量來提高.但是,這些測量設(shè)備通常不能滿足當(dāng)今的需求.
現(xiàn)代阻抗分析儀
現(xiàn)代阻抗分析儀通過內(nèi)置軟件,可直接從測量到的復(fù)雜阻抗過程中,在可計數(shù)頻率范圍內(nèi)計算貼片晶振替代電路圖像的元素.雖然這是一種優(yōu)雅快速的測量方法,但實際經(jīng)驗顯示,所顯示的結(jié)果在很大程度上取決于所選的分析頻率范圍.這是因為測量使用迭代參數(shù)配件計算R1,L1,C1和c0的所有四個元素.如果分析頻率范圍僅包括共振環(huán)境及其反共振,則c0的計算不夠精確,因為其影響只能從共振位置充分分離出來.迭代參數(shù)匹配方法將c0的系統(tǒng)誤差"分配"到其他項值.但是,增大分析區(qū)域會降低R1,L1和C1的精度,因為共振位置不再精確求解.另一個缺點是石英晶振負(fù)載很小(通常是一些NW),并且/或者不能設(shè)置為可預(yù)測的值.
iec444中描述的被動測量方法是當(dāng)今公認(rèn)的振動石英測量國際標(biāo)準(zhǔn).在本標(biāo)準(zhǔn)中,零件444-1(床).[1])和444-2(床).[2])定義了測定fr共振頻率和石英替換數(shù)據(jù)(RR,C1,L1,c0,q)至125MHz的測量方法.在iec報告444-3(讀取)中.[3])是一種通過c0擴(kuò)展到200MHz的方法(現(xiàn)已過時)闡述了補(bǔ)償.負(fù)荷容量的負(fù)荷共振測量見第444-4部分(床).[4])的定義,在iec中準(zhǔn)備了一種更現(xiàn)代的方法,并在此進(jìn)行了說明.第444-5部分(床).[5])介紹了可將頻率范圍擴(kuò)展到500MHz以上并提高測量精度的糾錯方法.
被動測量至125MHz后(din)iec444-1和444-2
振動石英應(yīng)用于符合圖4.1的iec444-1[1]基因型雙p網(wǎng)絡(luò)中,從而使測量對象從斷開連接的測量設(shè)備的連接.
圖4.1:iec444-1之后的雙p網(wǎng)絡(luò)(din)
從振動諧振器來看,網(wǎng)絡(luò)阻抗每12.5w.因此,額定負(fù)載=25w.雙p網(wǎng)絡(luò)(對于短路而不是石英)總阻尼為29.6db,從而減少了部署的測量對象上的反射供水.典型的結(jié)構(gòu),如(din)iec444-1中所示,是由同軸圓盤和桿電阻組成的精確運(yùn)行,使用現(xiàn)代的執(zhí)行方式——如(din)iec444-5[5]中所示——在陶瓷基板上具有印刷RF電阻的結(jié)構(gòu)(見圖4).
圖iec444-2:的現(xiàn)代運(yùn)行
在這兩種情況下,設(shè)計都針對預(yù)應(yīng)力振動石英晶體諧振器進(jìn)行了優(yōu)化,其中其標(biāo)準(zhǔn)測量參考平面低于振動石英外殼的底板2mm.對于smdges機(jī)箱中的擺動石英(l-leads),作為j-leads或no-leads時,尚未對測量適配器進(jìn)行加熱.iin在這些情況下,必須進(jìn)行適當(dāng)?shù)闹虚g調(diào)整,以確保在電路接觸石英晶振的平面上,即在著陸表面上進(jìn)行測量和校準(zhǔn).
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