晶振的每個參數(shù)通常都與溫度有關(guān)(晶體頻率,C0,C1,R1,......).模擬中C1和C0的變化可以忽略不計.實際晶體的串聯(lián)電阻R1的變化不能用簡單的公式來描述.因此,我們假設(shè)模型的溫度無關(guān)的R1值,并假設(shè)C1和C0的值在整個溫度范圍內(nèi)是恒定的.因此,溫度的頻率變化通過電感值的變化來實現(xiàn).不幸的是,用一個包含全局變量溫度的公式來簡單地替換電感值是不可能的.
石英晶振的測量方法分為多種,作為現(xiàn)代電子產(chǎn)品中不不可缺少的電子元件來說,測量是重要的一個步驟,一個成品的成敗就看它了.而測試石英測量石英參數(shù)有兩種原理方法:主動測量和被動測量.主動測量時,將振蕩器中的石英用作頻率決定的肢體.這些測量設(shè)備稱為"測試",專為不同石英晶體振蕩器頻率范圍而設(shè)計.在這些設(shè)備中,石英在很大程度上獨立于共振電阻及其其他參數(shù)C1,L1和c0進行擺動.
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