半導(dǎo)體元件有望在產(chǎn)品的整個壽命期內(nèi)可靠運行.選擇可靠性等級最高的設(shè)備限制了故障組件在現(xiàn)場導(dǎo)致產(chǎn)品故障的可能性.SITIME晶振提供滿足這一目標(biāo)的振蕩器,零微機電系統(tǒng)場故障超過2.5億個單位.零場故障令人印象深刻,但工程師希望確保零件已經(jīng)過充分的可靠性測試.衡量半導(dǎo)體元件可靠性的關(guān)鍵指標(biāo)是平均故障間隔時間,即平均故障間隔時間.MTBF越高,器件的預(yù)期壽命越長,因此器件越可靠.本應(yīng)用筆記描述了SiTime微機電系統(tǒng)振蕩器的測試過程和預(yù)測平均溫度系數(shù)的計算.
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